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Rohde & Schwarz
2021/02/03
Rohde & Schwarz對汽車天線罩測試儀進行改良，將材料反射量測精度提升到了新的高度
Rohde & Schwarz增強了R&S QAR汽車天線罩測試儀，這是一種為雷達整合測試量身定制的解決方案，用於分析和評估天線罩和保險桿的雷達相容性。通過新的R&S QAR-K50多合一量測軟體，整車廠和Tier 1供應商能夠獲得與向量網路分析儀（VNA）和准光學（QO）裝置非常接近的量測結果，採用的卻是二維的非破壞檢測 。此外，簡便直觀的R&S QAR操作也為客戶帶來了方便。
R&S QAR是一種毫米波成像系統，用於對高要求的天線罩和保險桿材料進行測試和驗證。得益于其卓越的性能、測試速度、品質和直觀的操作方式，該產品是開發、生產到驗證天線罩材料以及整合76GHz至81GHz雷達的完美工具。
高空間分辨率的代價是入射角分散更大。典型的雷達感測器具有一定的視角，例如，全範圍雷達（FRR）為+/-10°，短程雷達（SRR）為+/-60°。從材料特性量測技術出發，天線罩的反射參數主要為垂直入射角進行定義，因為這些參數可以用VNAs量測。R&S QAR-K50軟體選項解決了這個問題。
將R&S QAR的量測結果與標準向量網路分析儀（VNA）和准光學（QO）裝置的量測結果進行比較，可以觀察到一些偏差，並用R&S QAR使用的較大光圈加以解釋。
這就是R&S QAR-K50軟體選項發揮作用的地方。它能自動檢測材料樣品的最高反射，並在測試區域進行平均。確定反射區域的平均值後，它能在不到7秒內將其作為量測結果顯示給使用者。該值與VNA的S11和S22反射測量結果非常匹配。
在研發期間使用VNA和QO裝置進行的量測現在可以直接與R&S QAR量測進行比較。與VNA裝置相比，該裝置仍採用微波成像，但天線孔徑較小，因此對定位誤差不太敏感，更適合量產環境。R&S QAR-K50軟體可自行檢測正確的量測區域，並在樣本位置稍微超出公差時向操作員提供光學回饋。R&S QAR現在將其用於均勻性分析的高解析度圖像（R&S QAR-K10軟體），與一個堅固且易於使用的反射量具相結合。使用R&S QAR-K50軟體選項獲得的量測值與VNAs在QO裝置中提供的結果具有直接可比性。
用於多合一量測的R&S QAR-K50軟體選項可以安裝在所有Windows 10儀器上，最新韌體使用金鑰啟動。產品現已上市，歡迎洽詢Rohde & Schwarz。 (Source: Rohde & Schwarz website)
